ЭФФЕКТИВНОСТЬ ЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ СВЕТА
Основное влияние на электролюминесценцию в полупроводниках оказывают величина и форма минимального энергетического зазора между валентной зоной и зоной проводимости. За исключением особых случаев очень высоких уровней возбуждения при низких температурах [1]. излучательное время жизни существенно превышает время релаксации инжектируемых носителей, обусловленное рассеянием на колебаниях решетки. Поэтому в рекомбинации участвуют электроны и дырки, которые по отдельности находятся в равновесии с решеткой. Максимальная энергия, которая может выделиться при межзонной рекомбинации свободных носителей, с точностью до малого члена порядка kBT равна Eg. Часто рекомбинация с наибольшей эффективностью происходит через примесные уровни, так что электрон или дырка (или оба носителя) теряют часть энергии в процессе захвата. Поскольку глаз человека чувствителен только к излучению с энергией hv 1,8эВ (~700 нм), интерес представляют полупроводники с шириной запрещенной зоны Eg, превосходящей это предельное значение. К сожалению, при этом исключаются такие материалы, как Ge (Еg = 0,66 эВ), Si [Eg= = 1,12 эВ) и даже GaAs (Eg= 1,44 эВ), для которых хорошо разработана технология выращивания кристаллов и изготовления приборов.
Кроме требуемого значения Eg, необходимо, чтобы соответст вующий полупроводниковый материал можно было с разумны! ми затратами выращивать в виде крупных монокристаллов, при! годных для серийного производства светодиодов. Кроме тогоа для получения эффективных гомогенных р — n-переходов нужюГ иметь возможность изменять тип проводимости путем легирс вания (разд. 2.1). В настоящее время наиболее подходящим ма-і териалом для красных и зеленых светодиодов является фосфид галлия (рис. 3.1), хотя при изготовлении красных светодиодов с ним конкурирует целый ряд тройных твердых растворов типа AinBv. Другие соединения типа AIHBV с более широкой запрещенной зоной либо содержат элемент, который активно взаимодействует с окружающей средой (например, А1), что приводит к необходимости введения неудобных и, по всей вероятности,
Относительная к чубсп&тю/л - S' ность |
/w3zl^8) Sn02 |
— ІпгОз |
ZnSe |
77 AgOaSt, |
GaS GajOj CuGaSi |
.CdS |
ZnP 2 ZnTg —“ , гг™ ■ 7ТГ7Т - MqSvPa. CdP2 ^ |
GoSe |
^ “ ZnSiAsj |
BP |
CdSg CdTe |
AlSb |
&S, P«^S ZnGeP2 AqGaSei. CdGePi |
CuGaSe* CuInS, |
ukm |
E при 300К |
Рис. 3.1. Схема распределения полупроводников, представляющих интерес для изготовления источников видимого света, по значениям ширины запрещенной зоны Eg. Слева показана кривая относительной чувствительности глаза. ГГрямозоиные полупроводники отмечеиы штриховкой. Полупроводники, отмеченные звездочкой, могут быть как Р-, так и «-типа. Многие полупроводники, принадлежащие к различным группам и расположенные в соответствующих столбцах, можно изготавливать различных типов проводимости, ио они ие внесены на рисунок, поскольку для них Eg «С 1,8 эВ и, следовательно, |
нх нельзя рассматривать в качестве возможных материалов для источников видимого
света.
дорогих процессов при изготовлении и герметизации светодио - Дов, либо их очень трудно вырастить в виде монокристаллов (например, кубический BN и GaN). В этих материалах с широкой запрещенной зоной, но со сравнительно низкой теплотой образования трудно управлять уровнем легирования по той причине, что стехиометрические дефекты электрически активны. Например, нелегированный GaN всегда имеет сильную проводимость n-типа (часто n ^ Ю19 см-3), которая обусловлена, вероятно, вакансиями N или Ga в междоузлиях [2]. Широкозонные полупроводники типа AnBVI обладают превосходными фотолю - минесцентными свойствами, и хорошие пластинчатые кристаллы некоторых из них могут быть легко выращены методом газовой эпитаксии. К сожалению, указанные соединения невозможно
получить с проводимостью п - и р-типа, вследствие чего эффективная инжекция носителей недостижима. Обычно считается, что это ограничение обусловлено самокомпенсацией электрически активными природными дефектами [За—Зг]. Однако существуют и другие механизмы, в частности склонность к самокомпен - сации примесей, которые, находясь в узлах решетки, образуют только мелкие акцепторы, способные вызвать проводимость p-типа при 300 К, поскольку они одновременно обладают донор - ными свойствами, если находятся в междоузлиях (разд. 3.5.3). Карбид кремния интенсивно исследовался с точки зрения использования в светодиодах, но процесс выращивания этого материала сравнительно труден и дорог; даже при получении кристаллов из раствора Si [4] требуются температуры не ниже 2000 °С. Для диффузии В и А1 в процессе изготовления светодиодов также необходимы температуры выше 2000 °С [5]. Кроме того, есть основания полагать, что изготовить из SiC эффективные светодиоды, работающие при комнатной температуре, достаточно трудно, поскольку зонная структура SiC [6] такова, что вероятность переходов с энергией, близкой К Eg, в этом непрямозонном полупроводнике мала (разд. 3.1.1).
Излучательная рекомбинация, близкая к межзонной, и оптическое поглощение в полупроводниках сильно зависят от того, соответствует ли расположение основного минимума зоны проводимости прямым или непрямым межзонным переходам (рис. 3.2). После краткого анализа вероятности межзонных переходов для полупроводников этих двух типов мы рассмотрим фосфид галлия, чтобы проиллюстрировать свойства непрямозонных полупроводников. Мы увидим, что неизвестный до недавнего времени тип ловушек (так называемые изоэлектронные ловушки, открытые в 1965 г.) обладает несравнимыми преимуществами в качестве активатора люминесценции в таких непрямозонных полупроводниках, как GaP. В качестве типичного прямозонного полупроводника будет рассмотрен арсенид галлия; свойства этого материала аналогичны свойствам прямозонных тройных твердых растворов типа A!!IBV с большей шириной запрещенной зоны. В разд. 3.4 обсуждаются эффекты, специфичные для полупроводниковых твердых растворов. В разд. 3.5 кратко перечислены и описаны некоторые более эффективные светодиоды на основе гетеропереходов и электролюминесцентные ячейки, известные из литературы. Вопросы деградации светодиодов рассмотрены в разд. 3.6. Общие свойства инжекционных лазеров, которые можно изготовить только из прямозонных полупроводников, рассмотрены очень кратко с точки зрения процессов рекомбинации в разд. 3.3.6 и 3.4.3. Приборам на гетеропереходах посвящен разд. 3.4.6. Исследования деградации инжекционных лазеров на гетеропереходах дали обширную ин-
Рис. 3.2. Зонная структура GaP (соединение типа A1UBV) в окрестности краев запрещенной зоны (ГвН—(Xt)c при ОК. Стрелками указан типичный межзоиный переход, с участием фонона, соответствующий краю полосы поглощения. Энергия переходов, эВ: 1. Непрямых межзонных 2. Прямых межзонных Xt — Г8=2,339 ± 0,002; 1— Г8 = 2,878 ± 0,002; X, —Г8=2,63±0,01. Гі—Г7 = 2,960 ± 0,003. _ 3. Внутрнзониых Г,-X, = 0,54; Г8 — Хч 2,5. |
формацию, представляющую интерес для разработчиков полупроводниковых светодиодов; эти исследования рассмотрены в разд. 3.6.3. Инжекционные лазеры подробно рассмотрены в ряде работ [7а—7ж].
По-видимому, лишь за одним важным исключением твердотельных микроволновых генераторов и усилителей, свойства йолупроводника с точки зрения его возможного использования в светодиодах определяются его полной зонной структурой (включая области вдали от экстремумов) в большей степени, чем это имеет место для других твердотельных приборов. Поэтому важно представлять, какую помощь в выборе полупроводника, оптимального для изготовления светодиодов, могут оказать теоретические расчеты. В работах [8а—8в] развит теоретический метод, позволяющий предсказывать и уточнять зонную структуру полупроводников с тетраэдрической решеткой. Метод основан на квантовой теории диэлектрической проницаемости, Которая учитывает влияние величины постоянной решетки,
4 Зак. 1242
степени ионности кристалла и электронов d-оболочки на зонную структуру. В целом параметры, вычисленные этим методом, находятся в лучшем согласии с экспериментом, чем полученные более ранними методами, например эмпирическим методом псевдопотенциала [9а, 96]. К сожалению, метод диэлектрической проницаемости менее точен в применении к. соединениям, содержащим элементы второй строки периодической системы, а именно эти элементы представляют наибольший интерес с точки зрения возможности получения широкозонных соединений для светодиодов. Поэтому в новых полупроводниках детали зонной структуры, важные для работы светодиодов, приходится пока получать экспериментально. Примером может служить ОаМ. для которого теория предсказывает прямозонную структуру и запрещенную зону Eg = 4,8 эВ [86], тогда как эксперимент дает величину Eg х 3,4 эВ при 300 К [10]. Выводы теории диэлектрической проницаемости приведены в работе [11].