Туннельная излучательная рекомбинация
В соответствии с моделью туннельных излучательных пере - , ходов электрон и дырка туннелируют горизонтально в область обедненного слоя, где и происходит излучательная рекомбинация. Вероятность туннельного просачивания меняется экспоненциально с высотой потенциального барьера [выражение (2.15)]. Пренебрегая тепловым размытием заполнения энергетических уровней вблизи квазиуровней Ферми, можно считать, что максимальная энергия фотона и минимальная высота барьера соответствуют энергетическому зазору между квазиуровнями Ферми для дырок и электронов, который равен еУв (рис. 2.1). Излучательная рекомбинация зависит от перекрытия волновых функций электронов и дырок внутри узкого обедненного слоя; виртуальные состояния в данном случае не требуются [203]. С помощью этой модели можно объяснить многие из тех явлений, которые объясняются моделью заполнения зон. Важные различия между моделями заключаются в следующем: согласно модели туннельной излучательной рекомбинации насыщение длинноволнового хвоста в спектре излучения не наступает; согласно модели заполнения зон, активная область перехода широка (на это указывает отсутствие интерференции); кроме того, должно наблюдаться постоянство экспоненциального наклона длинноволнового хвоста излучения (наклон зависит от ширины обедненного слоя при нулевом смещении на диоде). При туннельной излучательной рекомбинации спонтанное излучение поляризо
вано. Излучательные туннельные переходы играют большую роль при низких температурах. Скорость смещения максимума излучения при этом обычно меньше, чем в тех случаях, когда справедлива модель заполнения зон.
Свойства резких асимметричных р—«-переходов (рис. 2.2) проанализированы в работе [204] на основе теории туннельных излучательных переходов Моргана [205].. Свойства этих переходов сравнивались со свойствами линейных переходов в аналогичном материале. Морган показал, что теория излучательных туннельных переходов может предсказать насыщение длинноволнового хвоста люминесценции, если зависимость потенциала от расстояния внутри обедненного слоя параболическая [линейно изменяющееся поле (рис. 2.2)], как непосредственно следует из уравнения Пуассона, а не линейная, как считалось ранее при расчетах в рамках модели туннельных излучательных переходов для плавных р — «-переходов [206]. Авторы работы [204] нашли, что при люминесценции асимметричных резких р — «-переходов выполняется определенное соотношение для смещения максимума излучения в интервале энергий hv, равном 0,25 эВ (рис. 3.38,6). Они же показали, исходя из исследований интерференции, что активная область диодов тоньше 600 А. Следует отметить близкое совпадение экспериментальных и теоретических спектров, полученных на основе теории Моргана для меж - зонной туннельной излучательной рекомбинации. Оно наблюда* лось для зависимостей излучения от температуры, приложенного напряжения и концентрации основных носителей в слаболегированной области, примыкающей к р — «-переходу.
Для линейных р — «-переходов Кейси и Силверсмит [204] показали, что свойства спектров при низких напряжениях смещения согласуются с моделью туннельных излучательных переходов зона — примесь, в которых принимают участие глубоко- лежащие состояния. Согласно этой модели, предложенной Морганом, рекомбинация происходит в узкой области внутри обедненного слоя. Кейси и Силверсмит нашли, что насыщение длинноволнового хвоста спектра люминесценции не является полным при больших напряжениях смещения. Оно было таким, как показано на рис. 3.38, а, что и ожидалось для случая туннельной излучательной рекомбинации в постоянном поле р — «? перехода, характерном для линейных р—«-переходов (разд. 2.3). Можно считать, что в этом случае мы имеем дело с излучатель - ными туннельными переходами зона — зона, происходящими в значительно более широкой области обедненного слоя [204]. Та* ким образом, Кейси и Силверсмит считают, что механизм за< полнения зон может быть несущественным в GaAs-диодах даже для р — «-переходов с линейным распределением принеси. Этот вывод был оспорен в работе [206а].
Утверждается, что механизм заполнения зон, в котором участвуют хвосты плотности состояний, может хорошо проявиться при более высоких напряжениях смещения, если область рекомбинации диффузионного р — /г-перехода достаточно хорошо компенсирована. Сильная компенсация /г-области может вызвать появление дырочной компоненты тока через р — /г-переход и рекомбинацию электронно-дырочных пар в /г-области, и эти процессы будут преобладать в области малых и не очень больших напряжений смещения в отличие от того, что обычно имеет место в GaAs-светодиодах. Эти идеи получили подтверждение в работе [196], посвященной приборам на основе GaAlAs-структуры с двойным гетеропереходом. Для того чтобы получить перемещающийся спектральный максимум в результате действия механизма заполнения зон, необходимо, чтобы в хвосте зоны проводимости была большая плотность состояний, как в сильно- компенсированном сильнолегированном материале р-типа. Тем не менее смещение пика излучения происходит только после того, как состояния на хвосте будут заполнены инжектированными электронами, хотя насыщение люминесценции с квантами малой энергии происходит при самых малых уровнях инжекции.