Признаки дефектов на основе их условных размеров
Некоторые нормативные документы не допускают наличия протяженных дефектов в контролируемом изделии, поэтому возникает задача распознавания компактных и протяженных дефектов средствами УЗ-дефектоскопии.
Дефект относят к компактным (непротяженным, точечным, одиночным) или протяженным с позиции УЗ-контроля в зависимости от того, меньше или больше его размер по сравнению с шириной УЗ - пучка лучей от данного преобразователя на данном расстоянии от него. Определяют это на основании измерения условных размеров дефекта. Дефект считают компактным, если все его условные размеры не больше, чем у ненаправленного отражателя.
Практически дефект считают компактным, если его условные протяженность, ширина или высота не превосходят условной протяженности, ширины или высоты эквивалентного дефекту плоскодонного отверстия при их измерениях любыми способами. Иногда для упрощения контроля сравнивают условные размеры всех обнаруженных дефектов и плоскодонного отверстия максимально допустимого размера для ОК.
Обычно плоскодонное отверстие имеет диаметр значительно меньше диаметра преобразователя, поэтому его условную протяженность определяют по диаграмме направленности преобразователя как излучателя-приемника. Если диаметры отражателя и преобразователя соизмеримы, то их общая диаграмма направленности сужается (см. рис. 3.15). Только когда размер отражателя больше,
Рис. 3.18. Графики для распознавания компактных и протяженных дефектов относительным (а) и абсолютным (б) способами |
чем преобразователя, условные протяженности, измеренные способами "6, 10 или 20 дБ", возрастают.
Условная протяженность, определенная по уровню фиксации, постоянно растет с увеличением размера отражателя. Отсюда следует, что при измерении условной протяженности разными способами превышение ею условной протяженности эквивалентного дефекту плоскодонного отверстия свидетельствует о выявлении протяженного дефекта, который (возможно) лишь частично отражает УЗ.
Когда дефект расположен в дальней зоне прямого преобразователя, для отличия компактного и протяженного дефектов пользуются графиками (см. рис. 3.18). Они построены в безразмерных координатах.
Прямые на рис. 3.18, о соответствуют условной протяженности Ах, измеренной относительными способами на уровнях 6 и 20 дБ. Кривые на рис. 3.18, б отвечают условной протяженности Ах', измеренной по уровню фиксации. Кружок или квадратик у графиков соответствует круглому или прямоугольному пьезоэлементу размером D в направлении перемещения преобразователя; (Лд/Лф) - превышение амплитуды эхосигнала от дефекта над уровнем фиксации, в положительных дБ. Если точка, отвечающая измеренной условной протяженности дефекта, лежит на соответствующей кривой или ниже ее, дефект компактный, если выше - протяженный.
Пример 3.5. При тех же условиях контроля, как в примере 3.4, обнаружен дефект эквивалентным диаметром d = 4 мм на глубине г -70 мм. Условная протяженность его на уровне фиксации (по плоскодонному отверстию диаметром d = = 2,2 мм) Дх’ = 25 мм. Является или нет дефект протяженным?
Определим, на каком уровне от максимума измеряется условная протяженность дефекта. Приведенное расстояние
r/N = 70/18 = 3,9 •
Дефект находится в дальней зоне преобразователя. Следовательно, можно пользоваться графиками, приведенными на рис. 3.18, и амплитуда эхосигнала от него пропорциональна площади эквивалентного отражателя:
(Дл/Дф) = 201§(4/2,2)2=Ю,4.
Определяем параметр на оси ординат рис. 3.18, б:
Ax'D/(r) = 25 • 12/(70 - 2) = 2,14 .
На рис. 3.18, б находим точку с координатами (10,4; 2,14). Она лежит выше кривой с кружочком. Квалифицируем дефект как протяженный.
Рекомендуется способ распознавания компактных и протяженных дефектов сварных соединений с помощью эмпирической формулы и практических данных (см. разд. 5.1.1.5).
Для разделения дефектов на неразвитые и развитые по высоте относительным способом ("6 дБ") сравнивают перемещения эхосигнала по линии развертки, соответствующие дефекту и боковому цилиндрическому отверстию (см. рис. 3.17, а), выполненному на той же глубине, что и дефект. Диаметр отверстия может быть произвольным. Если это перемещение для дефекта больше, дефект считают развитым по высоте. Сравнение с отверстием необходимо, чтобы учесть перемещение эхосигнала, связанное с раскрытием диаграммы направленности преобразователя.
На рис. 3.19 показаны временные интервалы At (мкс) пробега эхосигнала по линии развертки на уровне 6 дБ в зависимости от глубины залегания цилиндрического отражателя у (мм) для некоторых наклонных преобразователей из комплекта ПРИЗ-Д5. Кривые сняты экспериментально на образцах из углеродистой мелкозернистой стали. Отклонение от приведенных кривых в сторону уменьшения временного интервала для больших глубин возможно под влиянием повышенного затухания УЗ.
Согласно теории, если затухание УЗ в материале ОК мало, то временной интервал для цилиндрического отверстия возрастает линейно с увеличением глубины. Отклонение от линейности некоторых кривых (например, 2,5; 65°, см. рис. 3.19) вызывается недостаточной величиной стрелы наклонного преобразователя. Дифракция УЗ-волн на угле А (см. рис. 2.15) искажает акустическое поле преобразователя.
Пример 3.6. Преобразователем из комплекта ПРИЗ-Д5 с углом ввода 50° на частоту 2,5 МГц в сварном шве обнаружен дефект на глубине 50 мм. Временной интервал пробега эхосигнала по линии развертки до уменьшения его амплитуды на 6 дБ от максимума At равен 9,5 мкс. Является ли дефект компактным или он развит по высоте?
По графику 50°, 2,5 МГц для абсциссы у = =60 мм находим At - 8 мкс, т. е. меньше измерен-
At, мкс Рис. 3.19. Время пробега эхосигнала по линии развертки At в функции от глубины залегания у бокового цилиндрического отверстия для преобразователей из комплекта ПРИЗ-Д5. На кривых указаны частота и угол ввода |
ного для дефекта значения At. Квалифицируем дефект как протяженный.
Более точный способ сравнения дефекта с боковым цилиндрическим отверстием - определение второго центрального нормированного момента [222]. Он предусматривает измерение амплитуд эхосигналов от дефекта и бокового отверстия при перемещении преобразователя с шагом ~1 мм и сравнение интегральных значений амплитуд от этих отражателей. Этот способ, однако, трудоемок и редко применяется на практике.