Зависимость ширины запрещенной зоны от состава твердого раствора
В этом разделе нас будут интересовать твердые растворы, из которых могут быть изготовлены светодиоды с большим квантовым выходом в видимой области спектра. Особый интерес представляют твердые растворы, которые при увеличении ширины запрещенной зоны остаются прямозонными.
Наиболее удачные светодиоды до сих пор получались из твердых растворов, в которых энергия прямых переходов Гіс -► —>■ Гі5у арсенида галлия увеличивалась при добавлении Р или А1. Потенциальные возможности светодиодов на основе этих твердых растворов (в особенности GaAsi-jP*) рассмотрены Арчером 264]. Ширина запрещенной зоны в точке Г в GaP [265] и AlAs 266, 267] оказывается на — 1,4 эВ больше, чем в GaAs. Система GaAsi-xP* представляет больший промышленный интерес из-за простоты технологии выращивания из газовой фазы [268], хотя световая отдача оказывается меньше, чем в GaP или Gai_*Al. vAs. Метод жидкостной эпитаксии был также использован для изготовления диодов из Gai_*Al*As [269, 270], так же как для изготовления диодов из GaP (разд. 3.2).
Известно, что модель виртуального кристалла [271] позволяет разумно описать поведение многих систем твердых растворов, по крайней мере изготовленных из бинарных соединений, которые легко смешиваются во всей области возможных составов. В соответствии с этой моделью значения ширины запрещенной зоны в различных точках зоны Бриллюэна плавно, но в общем случае нелинейно [272] изменяются с составом твердого раствора (рис. 3.49). Когда состав полупроводника отклоняется от бинарного соединения, особенности в спектрах межзонного оптического поглощения и спектрах краевой люминесценции заметно уширяются из-за локальных статистических флуктуаций состава1). При этом, однако, сдвиг спектров поглощения и люминесценции совпадает с изменением ширины запрещенной зоны, которая определяется средним составом (в этом заключается основное предположение модели виртуального кристалла).
Нелинейность зависимости ширины запрещенной зоны от состава ярче выражена в тех твердых растворах, где замещаемые
с ‘) Это ясно видно в спектрах поглощения N в GaAstPi-* при малых х [276]. Влияние локальных флуктуаций состава на изоэлектронные ловушки может быть особенно сильным.’
Рис. 3.49. Зависимость ширины запрещенной зоны для наинизших прямых (—) (Гв -*■ Г і) и непрямых (Гв —А'і) переходов (—) в GaAsi-^P* от состава х. Данные для прямых переходов получены из спектров отражения. Энергетический зазор Г» — в GaAs был принят равным 0,43 эВ; значение состава, соответствующее переходу к непрямозонному полупроводнику, взято из работы [273], а ширина запрещенной зоны "для непрямого перехода в GaP равна 2,26 эВ [17]. В исследованиях ширины запрещенной зоны для непрямых переходов методом модуляции спектров поглощения по длине волны, ■дающим хорошее разрешение, показано [274], что эта зависимость еще более нелинейная» чем приведенная на рисунке, а переход к непрямозонному полупроводнику происходит прн гелиевых температурах прн *с ** 0,46, Eg * 2,09 эВ. Эти результаты подтверждаются исследованиями электролюминесценции твердых растворов, легированных и ие легированных азотом, при 77 К 111, 275]. |
Мольная доля GaP х |
атомы сильнее отличаются по размеру и псевдопотенциалу, в ре - зультате чего образуются группы атомов — кластеры, а в предельном случае даже появляются области несмешиваемости. Степень нелинейности для непрямых переходов обычно меньше, чем для прямых переходов в данном соединении [272, 273а]. Фостер и Вудс [277], рассмотрев поведение свободной энергии' при смешивании, показали, что во многих распространенных полупроводниковых твердых растворах существуют благоприятные условия для образования скоплений атомов, так как между отдельными компонентами соединения действуют отталкивающие силы. Степень сегрегации и ее влияние на такие свойства,
как рекомбинация носителей, до сих пор не известны. Способы измерения макроскопической однородности объемных кристаллов In. tGa!-^? описаны Блюмом и Чикоткой [278].
Хотя эффективная масса в точке Г, с, как видно из уравнения (3.36), может немного увеличиваться при добавлении А1 или Р, она остается близкой к эффективной массе электрона в GaAs и оказывается много меньше, чем в точке Х, с или в любом другом непрямом минимуме зоны проводимости. Следовательно, по-прежнему остаются различия в, распределении возможных состояний вблизи минимумов зоны проводимости в полупроводниках, легированных до уровней, обычных для светодиодов (см. сравнение GaP и GaAs в разд. 3.2 и 3.3). В частности, механизмы переходов в прямозонных тройных твердых растворах аналогичны механизмам переходов в умеренно - и сильнолегированном GaAs. Краевая люминесценция обычно включает переходы между зоной проводимости, искаженной присутствием донорного хвоста плотности состояний, и уровнями акцепторов, уширенными их взаимодействием.
Результаты, подобные кривым на рис. 3.49, лучше всего получаются из микрозондовых измерений, в которых ширина запрещенной зоны, определяемая из спектров катодолюминесцен - ции, сопоставляется с локальным составом, полученным из характеристических рентгеновских спектров [ЗОЗг]. Хотя этот метод хорошо применим к твердым растворам с относительно небольшими неоднородностями состава, он имеет недостаток, связанный с тем, что люминесценция может определяться рекомбинацией через лежащие глубоко в запрещенной зоне примесные состояния, что особенно характерно для непрямозонных полупроводников. Значения ширины запрещенной зоны лучше находить из спектров оптического поглощения при условии, что состав однороден во всем объеме образца, достаточном для измерения пропускания. Очень малые неоднородности (например, специально создаваемые в гетеропереходах) могут быть обнаружены с помощью как фотолюминесценции, так и катодолюми - несценции [278а]. Измерения эффекта Холла под действием гидростатического сжатия могут быть также полезны для определения момента перехода к непрямозонному полупроводнику [273а].