В методе рентгенографии полуширина дифракционной линии, т. е. расстояние между точками, в которых интенсивность составляет половину максимальной интенсивности В связана с размерами кри­сталлита L следующим образом:

L = КА / В Cos 9,

где К - коэффициент, зависящий от формы кристаллита (если форма кристаллита неизвестна, то полагают К - 0,9).

Для того чтобы получить более точное значение полуширины линии, снимают рентгенограмму эталонного вещества, в качестве ко­торого обычно используют монокристалл. На дифракционной кривой эталона ширина линии Взт уже не зависит от размеров кристаллитов, а определяется только условиями съемки и естественной шириной ли­нии. Таким образом, определив экспериментально для исследуемого полимерного образца ширину линии Вэкс„, находят значение В:

B = (B, J-Bjf после чего можно найти размер кристаллита.

При исследовании методом ЭПР частота вращения радикала - зонда не зависит от размеров сферолитов при их увеличении до 500 мкм.

При увеличении размеров сферолитных структур в результате образования микротрещин возрастает скорость потока частиц через полимер (проницаемость и электропроводность) [19].