Методы исследования поровой структуры пенополистиролов

В работе для изучения поровой структуры исследуемых материалов при­менялись методы электронной и оптиче­ской микроскопии [85, 125].

Для получения микроснимков сре­зов пенополистирольных образцов ис­пользовался растровый электронный мик­роскоп (РЭМ) модели JEOL JSM

6490 L V(рис. 2.11).

Технические характеристики прибора представлены в табл. 2.3.

Таблица 2.3

Наименование характеристики

Значение характеристики

Разрешение в режиме высокого вакуума, нм: при 30 кВ 3 кВ 1 кВ

3 8 15

Разрешение в режиме низкого вакуума (при 30 кВ), нм

4

Диапазон увеличений: при >11кВ <10кВ

Х8... хзоо 000 х5...х300 000

Виды контраста: для вторичных электронов топографический для отражённых электронов композиционный, топографиче­ский, теневой

-

Катод вольфрамовый (IV) или из гексаборида лантана (LaB6),

-

Конденсорная линза с переменным фокусным расстоянием

-

Объективная линза суперконического типа

-

Исследование электронно-микроскопических снимков высокого раз­решения с увеличением до 1000 раз позволяет с помощью прямых измерений определять основные геометрические данные поровой структуры пенополи­стиролов: размер и форму ячеек, толщину полимерных стенок, замкнутость пор и пр.

Изучение поровой структуры на площади среза более 10 мм проводи­лось с помощью прямого оптического микроскопа Carl Zeiss Axio Scope A1. Для получения микроснимков необходимого размера и разрешения произво­дилось их составление из более мелких в коммерчески доступных програм­мах графического редактирования.

Подготовка образцов к микроскопической съемке заключалась в акку­ратном выполнении среза в месте, подлежащем исследованию и их марки­ровке.

Обработка полученных геометрических данных поровой структуры производилась в программе с функциями автоматического проектирования Autodesk AutoCAD, в результате которой определялись:

• габаритные размеры ячейки по двум взаимно перпендикулярным на­правлениям в месте среза;

• площадь ячейки в месте среза.

Комментарии закрыты.