Осуществляется по перегибам или максимумам на темпера­турных зависимостях оптической плотности, интегральной интенсив­ности и полуширины полос поглощения. Метод имеет среднюю чув­ствительность и хорошее разрешение по всем видам переходов. К ре­лаксационным процессам наиболее чувствительны такие параметры, как интегральная интенсивность и полуширина полос поглощения, а фазовые кристаллизационные переходы хорошо разрешаются и коли­чественно описываются по изменению оптической плотности [45]. Результаты ИК анализа хорошо коррелируют с данными динамиче­ских, диэлектрических и тепловых методов, однако метод не нашел широкого распространения ввиду сложности обработки результатов и аппаратурного оформления.