Некоторые экспериментальные методы диагностики поверхности
Экспериментальные методы диагностики поверхности условно можно разбить tta «частичные», в которых «инструментом» являют-
Физические свойства
Геометрия образца —
острие
Геометрия образца —
плоскость
|
|
|
|||
|
|
||||
|
|||||
|
|||||
|
|||||
|
|
||||
ся частицы вещества: электроны, ионы, нейтроны и т. д. (табл. 3.7), и оптические — с использованием потоков фотонов в ультрафиолетовом, зидимом, инфракрасном и радиодиапазонах (табл. 3.8). За последние годы определились основные преимущества каждой группы методов: частичная диагностика имеет более высокое разрешение в определении локальных свойств как по поверхности, так и по объему; оптические методы позволяют изучать свойства поверхности непосредственно, в динамике. Наиболее плодотворными оказались комбинированные методы применительно к исследованиям одного объекта [3.30].
Рассмотрим некоторые из современных методов диагностики поверхности.
Дифракция медленных электронов и Оже-спектроскопия. Новый этап в области исследования физико-химических свойств поверхности твердого тела связывается с использованием методов дифракции медленных электронов (ДМЭ) и Оже-электронной спектроскопии (ОЭС). Совместное использование этих методов позволяет в ряде случаев установить взаимосвязь между структурой и химической природой поверхности.
Физические свойства
В методе ДМЭ пучок медленных электронов (до 500 эВ), падая на поверхность монокристаллов, упруго рассеивается поверхностными атомами и образует систему дифракционных пучков, отображающих двумерное периодическое расположение поверхностных центров рассеяния. При таких энергиях глубина проникновения электронов составляет около 0,3—1 нм. Упругоотраженные электроны после прохождения сеток, необходимых для удаления неупругорассеянных электронов, ускоряются (потенциалом около 5 кВ) и на люминесцентном экране образуют системы «рефлексов», отображающих поверхностную структуру.
Изучая изменение яркости определенного рефлекса в зависимости от энергии падающего пучка электронов и температуры образца, можно получить информацию о поверхностных состояниях кристалла и определить среднеквадратичные смещения атомов на поверхности, которые не совпадают с аналогичными свойствами твердого тела в объеме. Ясно, что если на поверхности имеются участки с нарушениями монакристалличиости, то на них электроны будут рассеиваться некогереитно. Присутствие на поверхности чужеродных адсорбированных атомов либо групп атомов приводит к качественному изменению дифракционной картины: уменьшению яркости рефлексов, появлению новых рефлексов, присущих структуре адсорбированного слоя.
Прекрасным дополнением к ДМЭ является спектроскопия Оже - элсктронов, которая позволяет обнаружить на поверхности присутствие чужеродных или примесных атомов.
В основе метода лежит эффект Оже. Под действием пучка электронов (0,1—1,5 кэВ), падающих на поверхность, образуются вакансии на некотором, например ft-м уровне энергии. Электроны
с более высоких уровней (например, с і-уровня) могут заполнить вакансию с выделением энергии, которая может испускаться в виде фотонов либо расходоваться на эмиссию электрона с I - или т-уров - ня. Эти электроны называются Оже-электронами. Проведя анализ энергии этих электронов, можно выделить пики, соответствующие Оже-электронам элементов, присутствующих на поверхности (расположение уровней у всех элементов различно).
Методом ОЭС регистрируется присутствие элементов в количестве 0,1% монослоя, а в некоторых случаях до 0,01% при толщинах анализируемого слоя 1—1,5 нм. Методом ОЭС выяснено, например, что химический состав поверхности может резко отличаться от состава объема, если примеси уходят вглубь или выходят на поверхность в результате диффузии примесей под действием внешних факторов.
Сочетание методов ДМЭ и ОЭС позволило изучить некоторые процессы адсорбции, например в работе [3.31] изучались хемосорбция кислорода и начальная стадия окисления монокристаллов никеля. Наблюдались кинетика адсорбции (по одному из Оже-пиков кислорода и сдвиг линии Оже-спектра никеля. Метод ДМЭ позволил проследить возникновение адсорбированных структур на поверхности, а также прокалибровать Оже-пик кислорода.
Оптические методы исследования границы раздела сред. Опти-' ческие методы могут быть разбиты на три группы:
1) основанные на измерении энергетических коэффициентов отражения и пропускания для поляризованного и естественного света;
2) «нарушенного» полного внутреннего отражения (НПВО);
3) эллипсометрические.
Первая группа методов позволяет определить коэффициенты отражения, пропускания и поглощения, по которым могут быть быстро вычислены феноменологические характеристики, например диэлектрическая и магнитная проницаемости, причем использование динамических модуляционных методик резко улучшает их чувствительность. Для повышения чувствительности и точности методов отражения используются также многократное отражение (чувствительность связана с числом отражений).
Вторая группа методов связана с резким изменением характеристик при появлении на внешней по отношению к границе раздела фаз среде даже ничтожно малого поглощения (например, адсорбированным комплексом). Именно это обстоятельство существенно выделяет данный метод и делает его особенно перспективным для исследования структуры границы фаз.
Наконец, эллипсо. метрический метод основывается на измерении фазовых и амплитудных характеристик отраженного от границы сред пучка. По отношению амплитуд отраженного и падающего пучков и по сдвигу фаз (изменению плоскости поляризации) определяют оптические свойства границы. Одновременно может быть вычислена толщина адсорбированного слоя.
В отличие от чисто физических экспериментов для исследования физико-химических процессов, протекающих на поверхности раздела сред, в частности при гетерогенном катализе, как правило, используются установки, состоящие из следующих основных узлов:
ячейки с электродами, включая электрод сравнения; системы «навязывания» внешнего потенциала, в том числе с заданным законом его изменения; системы обеспечивающей заданный пучок
фотонов и регистрацию их после воздействия на поверхность; комплексы обработки информации, включая ЭВМ.
1.Метод многократного зеркального отражения. На рис. 3.31 показаны данные [3.32] по исследованию адсорбции ионов I - и С1~ на золоте, полученные при 14 отражениях. Из рисунка видно, что существует (хотя и не полная) корреляция между кривой изменения коэффициента отражения и кривой тока электрохимической реакции. Авторами наблюдалось, в частности, сильное влияние концентрации ионов С1- на адсорбцию I-; было показано, что из изме-
Рис. 3.31. Зависимость изменения коэффициента
отражения R (------------- )
и плотности тока
(-------- ) от потенциала
для золотого электрода в 0,2 н. НС1 04 [3.32].
рений оптических коэффициентов отражения может быть определена степень заполнения поверхности адсорбированными анионами и получена очень ценная информация об изменении концентрации электронов на поверхности металла под влиянием заряда адсорбированных анионов.
Одним из недостатков метода внешнего отражения является ослабление сигнала при большом числе отражений, поэтому больше чем при 6—7 отражениях работать нецелесообразно, так как сигнал зеркальной составляющей становится сравним с рассеянным в ячейке светом.
2. Метод НПВО не обладает указанным выше недостатком. Известны работы, в которых проводились исследования методом НПВО с использованием 100 отражений, что существенно увеличивало чувствительность метода. Другой важной особенностью НПВО является малая глубина проникновения электромагнитной волны
в раствор для случая металл — электролит — примерно 200 нм в видимом диапазоне (она может быть еще уменьшена при использовании оптически прозрачных металлических электродов). Таким образом, концентрации реагентов, определенные этим методом, близки к концентрации на поверхности раздела. Так, весьма показательны данные, полу-
Рис. 3.32. Спектры МНГІВО раствора 12 мМ 4,7-деметилферроина [3.42]. Ч00Ч50 500 550 500 А, км / — <р=о,37 В; 2 — <р=0,94 В; 3 — спектр
.. пропускания
ченные Простаком и др. (рис. 3.32). Приведенные на рисунке спектры коэффициента поглощения а 4,7-диметилферроина, полученные на полупрозрачном электроде методом НПВО, сняты при потенциалах ф=0,379 В, когда краситель находится в восстановленной окрашенной форме, и ф=0,94 В, когда он частично обесцвечен. Автору удалось показать, что обесцвечивание происходит в тонком слое, близком к поверхности электрода, и не может быть определено любыми другими методами. Использование накопительной техники позволяет дополнительно расширить возможности метода НПВО и наблюдать изменения коэффициента отражения до 10-5 за время 10~е с.
/ — источник света; 2 — монохроматор; 3 — конденсор; 4 — прерыватель; 5 — поляризатор; б— компенсатор; 7 — экспериментальная ячейка; 8 —потенцио - стат; 9 — анализатор; 10 — призма; // —автоколлиматор; 12 — синхродетектор; 13 — усилитель (селективный); 14 — фотоэлектрический умножитель; 15 — регистрирующий прибор. |
К недостаткам метода можно отнести возможность искажения спектра, особенно при большом числе отражений, а также необходимость использования оптически прозрачных металлических электродов. К ним предъявляется ряд жестких требований: химическая стойкость, высокая прозрачность при низком сопротивлении переменному току.
3. Метод эллипсометрии. До недавнего времени считалось, что метод эллипсометрии исключительно сложен, поэтому исследования при переменной длине волны проводились другими методами. Однако в связи с широким применением эллипсометрии, особенно в электронной промышленности, были разработаны новые более совершенные приборы и методы в области обработки полученной информации.
Как показали некоторые исследования, трудности решения обратной оптической задачи, связанные с нехваткой уравнений для определения всех переменных (оптические коэффициенты л и k, толщина пленки d), могут быть преодолены путем измерений при различных углах падения луча. Появилась возможность разработки автоматизированной эллипсометрической системы с определением оптических параметров и толщин многослойной границы раздела сред в широком диапазоне длин волн. Одно из главных направлений этих исследований — определение влияния электронной структуры поверхностной окисной пленки на характер электрокаталити
ческих реакций, а также исследование изменений этой структуры с изменением толщины.
Основным преимуществом эллипсометрии является ее чувствительность, позволяющая определять изменения свойств поверхности при адсорбции на ней ионов с покрытиями, не превышающими 0,01 толщины монослоя. Методами модуляционной эллипсометрии можно обеспечить чувствительность к изменению коэффициента отражения порядка 10“', что практически недостижимо в исследованиях любыми другими методами.
На рис. 3.33 показана принципиальная схема эллипсометрической установки для изучения границы раздела фаз, а на рис. 3.34—полученные данные по растворению поверхностной окисной пленки на никеле после перевода электрода, длительно работающего в кислородной области потенциала, в водородную область. Анализ кривой растворения показывает, что окисная пленка, образованная на поверхности никеля в процессе длительной работы электрода в кислородной области потенциала, имела неравномерный химический состав. При этом можно выделить три слоя, отличающихся своим электрохимическим поведением.
слой был удален достаточно
Рис. 3.35. Зависимость плотности тока /, величины обратной емкости и электропоглощения Л/// от потенциала титанового электрода в 5 н. КОН [3.43].
полученные Акимовым и Розен - фельдом на титане в растворе 5 н. КОН. Было показано, что в области перехода к пассивному состоянию происходит перелокали - зация скачка потенциала из слоя Гельмгольца (падение тока) на поверхностный окисел (рост сигнала электроотражения). При больших потенциалах происходит рост поверхностного окисла (линейная зависимость С-1 от ф) и все приращение потенциала связано с увеличением толщины. При этом напряженность поля в окисле не растет, о чем свидетельствует постоянство сигнала электропоглощения. Метод электропоглощения' может быть эффективно использован для изучения фазовых превращений в поверхностных окислах, так как обычно спектры электропоглощения для различных фаз сильно отличаются. Так, Гоб - рехт, Паач, Тул применили метод электропоглощеиия для изучения никеля в растворе 0,1 н. H2S04 в диапазоне потенциалов между первичной и вторичной пассивацией (0,8—1,3 в). Пм удалось наблюдать образование на поверхности пленки окиси никеля слоя, обогащенного ионами никеля с валентностью больше двух. Эти результаты были подтверждены изучением зависимости электропоглощения от частоты модулирующего напряжения. Электроотражение можно связывать с такими условиями работы электрода, когда окисная пленка очень тонка и ее влиянием на спектры электромодуляции можно пренебречь. В этом случае модуляционные спектры позволяют получить информацию непосредственно о характере электронных состояний на границе металл — электролит. Природа наблюдаемых спектров электроотражения до настоящего времени не ясна, различные авторы связывали ее с изменением плотности электронов на поверхности металла, межзонными переходами, модуляцией времени релаксации электронов на поверхности, модуляцией оптических свойств электролита в двойном слое И Т. Д.