Выявить статическую нестабильность и закономерности ее проявления можно методом малых выборок, так как метод больших выборок, рассмотренный выше, дает представление о точности и устой­чивости технологической операции толь­ко за время взятия выборки большого объема. Такие условия при дальнейшем рассмотрении процесса, как правило, не сохраняются. Следовательно, нельзя строить предположение, что условия об­работки заготовок останутся неизмен­ными. ' ''

Метод малых выборок при значитель­но меньшем числе измерений и меньшем объеме вычислительных работ позволяет рассмотреть технологический процесс во времени (в динамике). Если малые выборки брать через определенные интер­валы времени в течение, например, смены или рабочего дня, то можно получить информацию о точности и стабильности технологической операции за этот про­межуток времени (рис. 12.18, а).

Для анализа технологической опера­ции малыми выборками отбирают вы­борки объемом 3—10 изделий через опре­деленные промежутки времени. При ис­следовании технологической операции за один межналадочный период первую вы­борку отбирают сразу же после наладки (подналадки) оборудования или инстру­мента, последнюю — перед очередной наладкой. Промежуток времени между двумя выборками устанавливается опыт­ным путем в зависимости от производи­тельности технологической операции и ряда других факторов. Обычно объем выборки принимают равным нечетному числу изделий, а количество выборок — не менее 10. Для каждой мгновенной выборки рассчитывают основные стати­стические характеристики х, x + S, х —5.

Для оценки точности и стабильности технологической операции за время взя­тия выборок строят точностную диаграм­му. По оси абсцисс откладывают номера малых мгновенных выборок или моменты времени взятия этих выборок. По оси ординат наносят соответствующие каж­дой выборке значения х, x + S и х —S. Все значения х соединяют прямыми линиями. То же относится к значениям x + S и х —S (рис. 12.18, б).

Статистические характеристики вы-^ борки х и 5 принимаются в качестве критериев оценки параметров теоретиче­ского распределения р и а генеральной совокупности:

П

Х = п~1 £ Xi, I=I

Среднеквадратическое рассчитывают по формуле

S=(n— 1)

По изменению значений х можно проследить за изменением во времени центра наладки технологической опера­ции. По изменению значений S можно судить о динамике процесса по рассея­нию. Технологический процесс может быть статистически устойчивым или по уровню наладки и по рассеянию (рис. 12.18, б), или только по одному из этих параметров (рис. 12.18, в) или вообще неустойчивым (рис. 12.18, г).

Точностная диаграмма на рис. 12.18, в Характеризует технологическую опера­цию, устойчивую по рассеянию, но не стабильную по уровню наладки. Однако уровень наладки изменяется монотонно, зависимость близка к прямолинейной, следовательно, данная технологическая операция имеет закономерно изменяю­щуюся систематическую погрешность, которая в данном случае является доми­нирующей. Причину такой погрешности следует искать, как правило, в изнаши­вании инструмента или оснастки.

Если точностная диаграмма показы­вает, что процесс изготовления изделий неустойчив (рис. 12.18, г), центр наладок и рассеяние имеют значительные колеба­ния, это значит, что технологическая операция не отлажена, существуют непо­ладки во всех звеньях цепи СПИД и в технологическом режиме обработки.

Точностная диаграмма позволяет по­лучить качественную оценку точности и стабильности технологической операции. Более точный анализ стабильности тех­нологической операции можно проводить с помощью контрольных карт.

Контрольная карта служит для графи­ческого отображения изменения уровня наладки и точности технологического процесса. Применение контрольных карт преследует две цели: во-первых, выявить причины грубых нарушений технологиче­ской операции, причины ее нестабиль­ности; во-вторых, выявить принципиаль­ную возможность перевода данной опера­ции на статистические методы контроля и регулирования.