Этот метод, разработанный фирмой "NDT Instruments" (США), используют главным образом для НК многослойных листовых конструкций с относительно малой кривизной поверхностей [203, 394]. Признаком дефекта служит изменение электрического импеданса Z3, нагружен­ного на ОК пьезопреобразователя. Вели­чина Z, однозначно связана с входным механическим импедансом ZH ОК. Изме­нение Z3 регистрируют с помощью микро­процессорной системы дефектоскопа.

Упрощенная структурная схема при­бора, реализующего этот метод, показана на рис. 2.137. Плоский пьезоэлемент 3 преобразователя через слой контактной смазки прижимают к контролируемой многослойной конструкции 1, в которой возбуждают продольные волны. Пьезо­элемент 3 через резистор 5 соединен с генератором 6 синусоидального напряже­ния постоянной частоты (100 ... 350 кГц). Электрический сигнал с пьезоэлемента усиливают блоком 4 и обрабатывают в микропроцессорном блоке 7. Происходя­щее в зоне дефекта 2 изменение нагру­жающего преобразователь механического импеданса ZH ОК вызывает определенное изменение входного электрического им­педанса Z3 пьезоэлемента. Результаты контроля представляют на дисплее 8 в виде изображающей точки на комплекс­ной плоскости. Конец вектора Z3, соответ­ствующего бездефектной зоне, изобража­ется точкой А в центре дисплея.

Обусловленное дефектом прираще­ние модуля |AZ3| пропорционально рас­стоянию текущей точки от точки А, при­ращение Аф3 аргумента Z3 определяется углом между прямой, соединяющей эти точки, и осью абсцисс. О глубине залега­ния выявленного дефекта судят по поло­жению изображающей точки.

Рассмотренный метод реализован в приборах "BondaScope 2100" (фирма NDT Instruments, США) и выпускаемом по ли­цензии аналогичном дефектоскопе "Laminar 200" (фирма Sonatest, Велико­британия).

Импедансные дефектоскопы, исполь­зующие продольные колебания, превосхо­дят приборы, работающие на изгибных колебаниях при контроле плоских листо­вых (особенно металлических) конструк­ций. Их недостатки - большая площадь контакта с ОК, затрудняющая контроль изделий с криволинейными поверхностя­ми, и необходимость применения кон­тактных жидкостей, исключающая воз­можность контроля объектов из гигроско­пичных материалов.